尼康 用于电子元器件检测的X射线和CT技术—XT V 160/XT V130C

XTV160和XTV130CX射线系统专为(μ)BGA、多层电路板和PCB焊点检测而设计,用于小型电子元件的一流检测系统。

尼康用于电子元器件检测的X射线和CT技术

XT V 160 XT V 130C

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产品详情

1. 用于小型电子元件的一流检测系统。

2. XTV160和XTV130CX射线系统专为(μ)BGA、多层电路板和PCB焊点检测而设计,这两款灵活的高精度解决方案,可方便地对PCB电路板进行缺陷分析。

3. 手动模式时,直观易用的软件和高精度样本控制器确保操作人员可以观察并评估微小的内部缺陷。

4. 自动检测模式时,检测样本的效率可达最高。

规格参数

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